迈向未来微电子新材料:乔治斯·阿尔·霍耶克荣获UCPSS最佳学生论文奖

Vers des nouveaux matériaux pour la microélectronique de demain : Georges Al Hoyek remporte le prix du meilleur papier étudiant à UCPSS

CEA-Leti Original
摘要
法国CEA-Leti与LTM实验室联合培养的博士生Georges Al Hoyek,因研究磷化铟表面功能化以提升其在微电子器件中的集成度,在国际UCPSS会议上荣获最佳学生论文奖。他的研究通过优化湿法清洗工艺,在氮气环境下有效去除磷化铟表面氧化物,为硅光子学和先进微电子集成提供了关键技术突破。这项工作有望推动磷化铟等替代硅材料在未来光电子器件制造中的应用。

法国CEA-Leti研究所与微电子技术实验室(LTM)联合培养的博士生乔治斯·阿尔·霍耶克,凭借其在磷化铟表面功能化方面的研究,荣获国际超净处理研讨会(UCPSS)最佳学生论文奖。他的工作为这一战略材料的处理和化学稳定性提供了新视角。

乔治斯来自黎巴嫩,最初在本国攻读基础物理学,后赴法国雷恩深造纳米科学与技术硕士学位。这一横跨物理、化学与微电子学的学术背景,使他顺利进入CEA-Leti攻读博士学位。他选择Leti,既是看中其在法国乃至欧洲的卓越声誉,也因其半工业化的研究定位。

他的获奖论文题为《氮气控制气氛下磷化铟表面的盐酸处理研究》。磷化铟是一种可替代硅的半导体材料,因其优异的光学和电学特性前景广阔,但在微电子应用中面临重大障碍:材料表面会自发形成氧化层和有机污染物。乔治斯的研究目标正是开发高效的“湿法清洗”去氧化方案,这是将磷化铟集成到微电子器件前的关键表面制备步骤。

为此,他利用LTM的IMPACT平台,设计并优化了一套特殊实验装置:将手套箱与300毫米平行角分辨X射线光电子能谱(pARXPS)分析系统通过真空传输系统连接。他比较了在空气与氮气(N₂)两种气氛下进行湿法化学处理的效果,并分别进行空气传输和真空传输,以评估环境对氧化过程的影响。

通过高精度的pARXPS技术,他分析了极端表面层的化学成分。研究发现,在氮气环境下进行湿法处理后进行真空传输,能有效去除磷化铟表面的氧化物;而处理后暴露在空气中传输则会导致表面快速再氧化。他还研究了磷化铟表面的再氧化动力学,证明已处理的磷化铟基底若在暴露空气后一分钟内完成后续操作,可避免表面发生显著再氧化。

这项研究对先进微电子领域,特别是硅基光子和芯片到晶圆集成等探索非硅替代衬底的技术路线具有直接应用价值。乔治斯指出:“我们的处理方案未来可拓展至其他材料,并集成到光电器件的制造流程中。”长远来看,该成果还可用于磷化铟晶圆键合或基于磷化铟等替代材料的晶体管原型制造。

研究团队对贝尔纳·佩利西耶、维吉妮·卢普和维克多·吕米诺等合作者致谢。UCPSS会议详情可通过官网了解。Leti亦通过“Talent Impulse”计划持续招募致力于开发未来技术的科研人才。

Summary
Georges Al Hoyek, a PhD student at CEA-Leti and the Laboratory for Technology and Microelectronics (LTM), won the best student paper award at the international UCPSS conference for his research on surface functionalization of indium phosphide (InP). His work developed a wet cleaning protocol in a nitrogen-controlled atmosphere to effectively remove oxides and prevent re-oxidation, enhancing InP's integration into advanced microelectronics and opto-electronic devices. This research addresses a key barrier in using InP as a promising alternative to silicon, with potential applications in silicon photonics and future transistor prototypes.

Doctoral researcher Georges Al Hoyek, working at CEA-Leti in collaboration with the Laboratory for Technologies and Microelectronics (LTM), has won the Best Student Paper award at the international UCPSS (Symposium on Ultra Clean Processing) conference. His research focuses on functionalizing indium phosphide (InP) surfaces to improve their integration into microelectronic devices, offering new insights into the processing and chemical stability of this strategic material.

Originally from Lebanon, Al Hoyek studied fundamental physics there before completing a Master’s in nanoscience and nanotechnology in Rennes. This interdisciplinary background in physics, chemistry, and microelectronics led him to a PhD at CEA-Leti, chosen for its reputation and semi-industrial positioning.

His award-winning paper, “Hydrochloric acid treatment of InP surfaces in N2-controlled atmosphere,” addresses a key challenge: InP is a promising semiconductor alternative to silicon for optical and electronic applications, but its use is hindered by spontaneous surface oxidation and organic contamination. His work aims to develop an effective deoxidation protocol using “wet cleaning,” a critical step for surface preparation before device integration.

For the study, Al Hoyek designed and optimized a specialized experimental setup combining a glove box with a pARXPS (parallel Angular Resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis system, connected via a vacuum transfer system. This allowed him to compare wet chemical treatments performed under two atmospheres—air and nitrogen (N₂)—followed by transfer in air or vacuum, respectively, to assess environmental impact on oxidation.

Using pARXPS, he precisely analyzed the chemical composition of the extreme surface layers. The results showed that wet treatment under nitrogen followed by vacuum transfer effectively removed oxides from the InP surface. In contrast, treatment followed by air transfer led to rapid re-oxidation. He also studied InP surface re-oxidation kinetics, finding that exposure to air for one minute or less after treatment prevents significant re-oxidation.

This research has direct applications for advanced microelectronics, including silicon photonics and Die-to-Wafer integration, which explore alternative substrates to silicon. Al Hoyek notes that the protocols could be adapted for other materials and integrated into future opto-electronic device fabrication. Ultimately, the findings could also support InP wafer bonding or transistor prototyping using alternative materials like InP.

Résumé
Georges Al Hoyek, doctorant au CEA-Leti et au LTM, a remporté le prix du meilleur papier étudiant à la conférence internationale UCPSS pour ses travaux sur la désoxydation des surfaces de phosphure d'indium (InP) en atmosphère contrôlée à l'azote. Ses recherches, utilisant une technique avancée d'analyse de surface (pARXPS), démontrent un protocole efficace pour éliminer les oxydes et prévenir la réoxydation, une étape clé pour l'intégration de ce semi-conducteur prometteur dans la microélectronique avancée et la photonique sur silicium.

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​​​​​​​​Doctorant au CEA-Leti en collaboration avec le Laboratoire des Technologies et de la Microélectronique (LTM), Georges Al Hoyek s'intéresse à la fonctionnalisation des surfaces de phosphure d'indium (InP) afin d'améliorer leur intégration dans les dispositifs microélectroniques. Récompensés à la conférence internationale UCPSS (Symposium on Ultra Clean Processing), ses travaux apportent de nouvelles perspectives sur le traitement et la stabilité chimique de ces matériaux stratégiques.​

Originaire du Liban, Georges Al Hoyek a commencé ses études en physique fondamentale dans son pays natal avant de poursuivre un master 2 en nanosciences et nanotechnologies à Rennes. Ce parcours académique, à la croisée de la physique, de la chimie et de la microélectronique, l'a naturellement conduit vers une thèse au CEA-Leti.

S'il a choisi le Leti, c'est à la fois pour sa réputation d'excellence en France et en Europe, et pour son positionnement semi-industriel :

Georges a présenté son papier «Hydrochloric acid treatment of InP surfaces in N2-controlled atmosphere» lors d'UCPSS, un événement international majeur dédié aux procédés de fabrication ultra propres, remportant le prix du meilleur papier étudiant. Il garde un souvenir fort de cette expérience :

Le sujet de recherche de Georges porte sur la fonctionnalisation des surfaces d'InP (phosphure d'indium), un semi-conducteur alternatif au silicium, particulièrement prometteur pour ses propriétés optiques et électroniques. Cependant, son utilisation en microélectronique est entravée par un obstacle majeur : la formation spontanée d'une couche d'oxyde et de contaminants organiques à la surface du matériau.

L'objectif de ses travaux est donc de développer un protocole efficace de désoxydation dans le cadre du “wet cleaning", une étape clé pour la préparation des surfaces avant une intégration dans les dispositifs microélectroniques.

Pour mener à bien son étude, Georges a mis au point et optimisé un dispositif expérimental spécifique monté par le LTM (plateforme IMPACT) et combinant une boîte à gants avec un système d'analyse pARXPS 300mm connectés entre eux par un système de transfert sous vide. Ainsi, Il compare les effets d'un traitement en chimie humide réalisé sous deux atmosphères : à l'air et sous azote (N2), suivi d'un transfert à l'air et sous vide respectivement, afin d'évaluer l'impact de l'environnement sur l'oxydation.

Grâce à la technique pARXPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy en résolution angulaire parallèle), il analyse la composition chimique des couches d'extrême surface avec une grande précision. Les observations effectuées post-traitement en chimie humide sous azote suivi d'un transfert sous vide, montrent l'efficacité de ce traitement à éliminer les oxydes de la surface de l'InP, tandis qu'un substrat InP traité et transféré à l'air libre entraîne une réoxydation rapide. Il a également étudié la cinétique de réoxydation de la surface InP, démontrant qu'une exposition à l'air dans un délai égal ou inférieur à une minute d'un substrat InP déjà traité empêche toute réoxydation significative de sa surface.​

Ces travaux ont des applications directes pour la microélectronique avancée, notamment dans le cadre de la photonique sur silicium et des intégrations Die-to-Wafer, qui explorent des substrats alternatifs au silicium.

Georges ajoute que «nos protocoles pourraient être étudiés sur d'autres matériaux et intégrés dans les étapes de fabrication des futurs dispositifs opto-électroniques. »

À terme, les résultats pourraient également servir au collage de plaques InP ou à la fabrication de prototypes de transistors utilisant des matériaux alternatifs comme l'InP.

Remerciements :Bernard Pelissier, Virginie Loup, Victor Lumineau

Pour en savoir plus sur la conférence :https://www.ucpss.org/

Et vous aussi, développez les technologies de demain !Pour postuler :Talent Impulse

AI Insight
Core Point

A CEA-Leti doctoral student won a top paper award for developing a controlled nitrogen-atmosphere wet cleaning process that prevents re-oxidation of indium phosphide (InP), a critical step for integrating this promising semiconductor into advanced microelectronics.

Key Players

CEA-Leti — French public research institute for microelectronics and nanotechnologies, based in Grenoble.

Laboratoire des Technologies et de la Microélectronique (LTM) — Joint lab (CNRS/Grenoble Alpes University) focused on microelectronics, based in Grenoble.

Industry Impact
  • ICT: High — Enables advanced microelectronics and photonics by solving a key integration barrier for InP.
  • Computing/AI: Medium — Supports development of future opto-electronic devices and alternative semiconductor transistors.
Tracking

Monitor — The research addresses a fundamental materials integration challenge, but its commercial adoption in fabrication processes remains to be proven.

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2026-04-02 15:22
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